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製品サポートとダウンロード
テクトロニクスの製品サポートへようこそ
当社は、技術的な問題について、時間をかけて丁寧にご説明させていただきます。しかし、お忙しいお客様もおられることでしょう。そのため、現行製品のほか、多くの製造中止の製品についても、マニュアル、データ・シート、ソフトウェア等を用意し、簡単にダウンロードしていだだけるようにしております。ご使用の製品をお知らせ下さい。関連するあらゆるリソースをご提供いたします。
選択された製品型名は現在購入可能です。以下のサポート情報を提供しています。
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技術情報 ドキュメントの種類 リリースの日付 Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
Introduction This primer examines the life cycle of a power semiconductor device and the tremendous variety of test and characterization activities and measurement challenges faced by the engineers involved in each stage …入門書 9139B Probe Card Adapter Board Files
This zip file contains files for fabrication of a 9139B-PCA (Probe Card Adapter) probe card. Files include a fabrication print and Gerber files.項目 High Voltage 1 kV Capacitance-Voltage Measurements with the Keithley S530-HV Parametric Test System
Due to the complexities typically associated with high voltage (1 kV) capacitance wafer-level testing, 1 kV C-V testing is usually limited to characterization labs or manual benchtop setups that are separate from a fab’s standard production workflow …アプリケーション・ノート Making Microsecond Pulse and AC Measurements with the S530 Parametric Test System by Integrating 4200A-SCS Parameter Analyzer Applications
This application note describes how to generate microsecond pulsed I-V sweeps and tests, as well as make AC impedance measurements, with the S530 Parametric Test System by calling built-in user libraries from the 4200A-SCS Parameter Analyzer in the …アプリケーション・ノート Protecting Parametric Test Systems and the Test Environment from Damaging Transient Overvoltages and Overcurrents
Measuring breakdown parameters is increasingly required to predict a device’s safe region of operation. Sometimes, those breakdown conditions in reliability testing and breakdown test occur as a result of unexpected behaviors, such as a second …アプリケーション・ノート Programming and Erasing Flash Memory Devices Using the Keithley S530 Pulse Generator Option
This note provides an overview of how to use the S530 Parametric Test System’s pulse source option to program and erase NAND flash memory cells. For further information on these measurements and on the S530 Parametric Test System pulse option …アプリケーション・ノート Performing van der Pauw Sheet Resistance Measurements Using the Keithley S530 Parametric Tester
Accurate low voltage measurements are essential to many semiconductor tests. Often, test structures such as contact chains, vias, and metal structures have resistances on the order of tens to hundreds of milliohms. Measuring such small resistances …アプリケーション・ノート